元器件测试

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日本日置 LCR测试仪 IM3523
日本日置 LCR测试仪 IM352···

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μ···

日本日置 LCR测试仪 IM3533
日本日置 LCR测试仪 IM353···

应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,···

日本日置 LCR测试仪 IM3536
日本日置 LCR测试仪 IM353···

DC,4Hz~8MHz测量频率● 测量频率DC,4Hz~8MHz● 测量时间:最快1ms● 基本精度:±0.05% rdg● 1mΩ以上的···

日本日置 LCR测试仪 3511-50
日本日置 LCR测试仪 3511-···

精巧,5ms快速测量LCR● 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)● 高精度: ± 0.08%● 内置比较器产品规格测量···

日本日置 C测试仪 3504-40
日本日置 C测试仪 3504-40

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等● 高速测量2ms● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值···

日本日置 C测试仪 3504-60
日本日置 C测试仪 3504-60

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等● 高速测量2ms● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值···

日本日置 C测试仪 3506-10
日本日置 C测试仪 3506-10

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性,在产线的上···

日本日置 测试夹具 IM9202
日本日置 测试夹具 IM9202

支持多种形状和尺寸的电子元件● IM7580系列专用SMD测试夹具● 测试频率600MHz● 适用于各种形状和尺寸的元···

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