元器件测试

日本日置 C测试仪 3506-10

  • 产品概述: 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz...
  • 型号规格: 3506-10

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

产品规格

测量参数

    C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)

测量范围

    C:0.001fF~15.0000μF
      D: 0.00001 ~ 1.99999
      Q:0.0 ~ 19999.9

基本精度

    (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013

测量频率

    1kHz,  1MHz

测量信号电平

    500mV,  1V rms

输出电阻

    1Ω  (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)

显示

    LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)

测量时间

    1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz

功能

    BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能,  振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口

电源

    AC  100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA

体积及重量

    260W  × 100H × 298Dmm, 4.8kg

附件

    电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1




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