元器件测试

日本日置 C测试仪 3504-40

  • 产品概述: 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等● 高速测量2ms● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判...
  • 型号规格: 3504-40

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
● 高速测量2ms
● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

产品规格

测量参数

    Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)

测量范围

    C:0.9400pF~20.0000mF
      D:0.00001~1.99000

基本精度

  (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
      ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数

测量频率

    120Hz, 1kHz

测量信号电平

    恒压模式: 100mV (仅限3504-60), 500 mV, 1 V
      测量范围:
      CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
      CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
      CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程  (测量频率 120Hz)

输出电阻

    5Ω(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)

显示

    发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)

测量时间

    典型值: 2.0 ms ( 1  kHz, FAST)
      ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

功能

      BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆,  测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能,  振动功能, 控制用输出输入  (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)

电源

    AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA

体积及重量

    260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

    电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1




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