元器件测试

日本日置 LCR测试仪 IM3536

  • 产品概述: DC,4Hz~8MHz测量频率● 测量频率DC,4Hz~8MHz● 测量时间:最快1ms● 基本精度:±0.05% rdg● 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进...
  • 型号规格: IM3536

DC,4Hz~8MHz测量频率
● 测量频率DC,4Hz~8MHz
● 测量时间:最快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中


产品规格

测量模式

    LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

测量参数

    Z,  Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs,  Cp, D (tanδ), σ, ε

测量量程

    100  mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)

显示范围

      Z:  0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°),  Q: ±    (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ±  (0.00000~9.99999), Δ%: ±  (0.000 %~999.999 %)等

基本精度

    Z:  0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)

测量频率

    4Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

测量信号电平

    [V模式, CV模式]的[通常模式]
      4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (最大50 mA)
      1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (最大10 mA)
      [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
      4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (最大100 mA)
      [CC模式]的[通常模式]
      4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (最大5 V)
      1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (最大1 V)
      [CC模式]的[低Z高精度模式]
      4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (最大1 V)
      [直流电阻测量]: 1 V固定

DC偏压

    发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

输出阻抗

    通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10  Ω

显示

    彩色TFT5.7英寸,触摸屏

功能

    比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

接口

    EXT  I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C,  BCD输出

电源

    AC  100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

体积及重量

    330W  × 119H × 230D mm, 4.2 kg

附件

    电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1



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