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日本日置 化学阻抗分析仪 IM3590

用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容)● 适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz ~ 200kHz的宽范围信号源● 1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查● 可测量电池的无负载状态产生的内部电阻● 最快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化● 基本精度±0.05%,零件检查到研究开发测量均可对应●

咨询电话:400-838-1718

用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容)
● 适用于离子运动和溶液电阻测量,1mHz ~ 200kHz的宽范围信号源
● 1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查
● 可测量电池的无负载状态产生的内部电阻
● 最快2ms的高速测量,实现扫描测量的高速化
● 基本精度±0.05%,零件检查到研究开发测量均可对应
● 适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻(LCR)测量


产品规格

测量模式

    LCR模式,连续测量(LCR/分析),分析模式(频率或电平扫描,温度特性,等效回路分析)

测量参数

    Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (直流电阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, T, σ (导电率), ε (介电常数)

测量量程

    100mΩ~100MΩ, 10档量程 (所有参数均由Z规定)

显示范围

    Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs,  Cp, σ, ε :
      ± (0.000000 [単位]~9.999999G [单位]) 仅Z和Y为绝对值显示
      θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.000000~9.999999)
      Q: ± (0.00~99999.99), Δ%: ± (0.0000%~999.9999%)
      T: -10.0℃~99.9℃

基本精度

    Z: ±0.05% rdg. θ: ±0.03°

测量频率

    1 mHz~200 kHz (1  mHz~10 Hz步进)

测量信号电平

    普通模式:
      V模式,CV模式:5 mV~5 V rms,1 mV rms步进
      CC模式:10 μA~50 mA rms,10 μA rms步进

      低阻抗高精度模式:
      V模式,CV模式:5 mV~2.5 V rms, 1 mV rms步进
      CC模式:10 μA~100 mA rms, 10 μA  rms步进

输出电阻

    普通模式:100 Ω,低电阻高精度模式:25 Ω

显示

    彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF

测量时间

    2ms(1kHz,FAST,显示屏OFF,代表值)

功能

    DC偏压测量,直流电阻温度补偿(标准温度换算显示),温度测量,电池测量(自动DC偏压外加方法),BIN测量(分类功能),面板读取·保存,存储功能

接口

    EXT I/O(处理器),USB通讯,USB存储
      选件:可安装RS-232C/GP-IB/LAN其中之一

电源

    AC 100~240 V,  50/60 Hz, 50 VA max

体积及重量

    330W × 119H × 168D mm, 3.1 kg

附件

    电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,使用软件)×1